一般來說，可靠性測(cè)試可分為加速壽命試驗(yàn)、結(jié)構(gòu)耐久性試驗(yàn)、氣候適應(yīng)性試驗(yàn)、表面裝飾試驗(yàn)和特殊條件試驗(yàn)。較常見的結(jié)構(gòu)問題包括落錘測(cè)試、反復(fù)下落、車輪等。下面就由我們上海天梯來進(jìn)行解答：

   首先第1個(gè)是跌落測(cè)試，它的測(cè)試環(huán)境是要求室溫在20-25℃，跌落測(cè)試的測(cè)試目的是是讓高低溫沖擊暴露樣品缺陷，測(cè)試設(shè)備有跌落測(cè)試儀。測(cè)試的項(xiàng)目包含了電氣性能參數(shù)測(cè)試被檢體。測(cè)試中還包括對(duì)手機(jī)的功能測(cè)試：其中包括的功能測(cè)試有通話、顯示屏、鈴聲、震動(dòng)、回聲、照明、拍照、充電、藍(lán)牙、按鍵、聽筒、聽筒、迷你SD卡等。以及需要測(cè)試手機(jī)的結(jié)構(gòu)測(cè)：包括手機(jī)的外殼附件、結(jié)構(gòu)附件、天線、鏡頭、顯示器、附件和其他未說明的結(jié)構(gòu)。4)外觀測(cè)試:噴涂、印刷、電鍍以及其他的結(jié)構(gòu)。較后一個(gè)就是手機(jī)的內(nèi)存時(shí)鐘：在原型內(nèi)存包含5個(gè)電話和5條信息，設(shè)置手機(jī)上的始終為當(dāng)前日期和時(shí)間。

手機(jī)跌落的測(cè)試方法:將試驗(yàn)的手機(jī)保持為插卡的狀態(tài)，在1.5米長(zhǎng)的手機(jī)的6個(gè)面上進(jìn)行自由落體實(shí)驗(yàn)，每面下落2次，每面檢測(cè)手機(jī)的形狀、結(jié)構(gòu)、內(nèi)存、時(shí)間和功能。試驗(yàn)手機(jī)的墜落順序?yàn)橹变N和翻轉(zhuǎn)手機(jī)(左、后、右、下、上、前。在下落過程中，對(duì)于翻蓋手機(jī)，一半樣品將打開到使用位置，一半樣品將關(guān)閉到初始狀態(tài)。樣品數(shù)量為奇數(shù)時(shí)，打開蓋子或滑動(dòng)其他樣品的滑蓋。跌落測(cè)試的試驗(yàn)條件要求高度為1.5米高，20毫米厚大理石落地。測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)定為手機(jī)外觀、結(jié)構(gòu)、功能、記憶時(shí)間都正常說明設(shè)備正常。

較終跌落測(cè)試的功能檢查標(biāo)準(zhǔn)樣機(jī)可以正常電話、顯示屏、振動(dòng)、LED、揚(yáng)聲器、聽筒、回聲、按鍵、拍照、正常充電等未說明的功能都是正常的。它的蓋子不會(huì)出現(xiàn)脫落、鉤子脫落、斷裂、旋轉(zhuǎn)軸不能有松動(dòng)、偏移、脫落和破損等現(xiàn)象出現(xiàn)。

我們必須要了解可靠性實(shí)驗(yàn)的方法和標(biāo)準(zhǔn)，我們上海天梯成立于2013年，我司工作人員均具備雄厚的實(shí)力和豐富的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，傾力為客戶提供更滿意的服務(wù)！